OmniScan X3 64相控陣探傷儀沿用了已經現場驗證、堅固耐用、輕盈便攜的OmniScan X3外殼,其強大的聚焦功能得到了更大的晶片孔徑容量的支持,可使您充分利用64晶片相控陣探頭,進行128晶片孔徑的TFM檢測。您可以利用這款儀器的增強性能,迎接檢測較厚、衰減
以下技術規格適用于所有OmniScan X3和OmniScan X3 64型號。
? 數據技術規格 ? 聲學技術規格 ? TFM/FMC ? 操作環境
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